5月25日，为引领学术研究，拓宽教师科研视野，营造浓郁的学术氛围，电子与物联网学院（简称电物学院）集成电路系开展了“重电大讲堂”学术交流活动。特别邀请重庆声光电有限公司抗辐射专家胡永贵研究员做“模拟集成电路抗辐射加固现状及发展趋势”讲座。集成电路系专任教师和部分微电子技术专业学生参加。

胡永贵研究员讲述了原子弹的辐射和宇航元器件在太空中受到的辐射损伤，揭示了模拟集成电路研究抗辐射加固设计的必要性。胡永贵表示，空间环境中存在的银河宇宙射线、太阳辐射射线和地球俘获粒子造成的充放电效应、总剂量效应、单粒子效应等对高中低卫星轨道中集成电路器件都会有影响。通过对总剂量效应的损伤机理研究和常用集成电路器件NPN、PNP、PMOS、NMOS和JFET的器件原理、结构分析和辐射效应影响结合抗辐射加固工艺的研究开展了模拟集成电路抗辐射加固的总体设计和电路设计。在抗辐射加固设计中给出了经过理论研究和工程实际验证有效的抗辐射电路和版图设计方法。

最后，胡永贵研究员对学生提出寄语，鼓励学生要有理想有信念，在平时的学习中要珍惜校园中的学习机会，生活中要锻炼身体有强健的体魄，要以阳光、积极的心态在未来的工作中面对挫折；同时鼓励学生未来投身集成电路设计岗位，为我国的集成电路产业建设做出贡献。

本次讲座开拓了我院师生的视野，加强同企业的交流与联系，通过企业专家的工程实践研究经验让师生对集成电路研究领域的广泛性和深入性有了更为直观的感受。

（供稿：电子与物联网学院集成电路系；编审：新闻中心）